SN74ABT18640DGGR
N/A
Deutsch
Artikelnummer: | SN74ABT18640DGGR |
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Hersteller / Marke: | N/A |
Teil der Beschreibung.: | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP |
Datenblätte: |
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RoHs Status: | |
ECAD -Modell: | |
Zahlungsmittel: | PayPal / Credit Card / T/T |
Versandweg: | DHL / Fedex / TNT / UPS / EMS |
Aktie: |
Ship From: Hong Kong
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Produkteigenschaften | Eigenschaften |
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Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
Supplier Device-Gehäuse | 56-TSSOP |
Serie | 74ABT |
Verpackung / Gehäuse | 56-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
Paket | Tape & Reel (TR) |
Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
Produkteigenschaften | Eigenschaften |
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Anzahl der Bits | 18 |
Befestigungsart | Surface Mount |
Logiktyp | Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers |
Grundproduktnummer | 74ABT18640 |
SN74ABT18640DGGR Einzelheiten PDF [English] | SN74ABT18640DGGR PDF - EN.pdf |
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP
IC BUFFER INVERT 5.5V 20SSOP
BUS DRIVER, ABT SERIES, 4-BIT
TI SOP20-7.2MM
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP
BUS XCVR DUAL 18-CH 3-ST 56PIN T
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
IC BUFFER INVERT 5.5V 20SOIC
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
SN74ABT18502APM TI
IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP
IC BUFFER INVERT 5.5V 20SOIC
BOUNDARY SCAN BUS TRANSCVR
2024/06/6
2024/04/18
2024/04/13
2023/12/20
![]() SN74ABT18640DGGRN/A |
Anzahl*
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Zielpreis (USD)
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